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進化した姿勢推定技術による画像認識装置

KDDI株式会社

東京都千代田区飯田橋3丁目10番10号 ガーデンエアタワー

この技術でできること

この特許は、画像認識の精度を向上させるための新たな姿勢パラメータ推定装置に関するものです。

技術の特徴

この特許は、入力画像内の認識対象物の姿勢パラメータを推定する装置について述べています。特徴点を選択し、それらを追跡することで認識対象物の姿勢パラメータを求めます。特徴点の選択は、予め定められた2種類以上の特徴点群の中から行い、特徴点の登録は、認識対象物の特徴点を配置に偏りなく選択し、それらを特徴点群に登録することで行います。さらに、特徴点の選択と追跡は、複数の解像度の画像を用いて行うことで、精度を向上させています。また、認識対象物の特徴点をクラスタリングして選択し、その過程でk-means型の手法を用いることも特徴的です。

関連キーワード

画像認識姿勢パラメータ特徴点クラスタリング解像度

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高精度な顔認識システムの開発

この技術は、顔認識システムの開発に活用できます。特に、複数の角度からの顔画像を正確に認識するための姿勢パラメータの推定に役立ちます。

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号
特願2013-203084
発明の名称
姿勢パラメータ推定装置、姿勢パラメータ推定システム、姿勢パラメータ推定方法、およびプログラム
出願人/権利者
KDDI株式会社
住所
東京都千代田区飯田橋3丁目10番10号 ガーデンエアタワー
公開番号
特開2015-069410
登録番号
特許第6121302号
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