精密な変位計測が可能な革新的な超音波装置

学校法人上智学院

東京都千代田区紀尾井町７番１号

この技術でできること

次世代の超音波技術を利用した高精度な変位計測装置

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、超音波を用いて物体の微細な変位を高精度に計測する装置について説明しています。特定の周波数領域におけるスペクトルを利用して超音波エコーデータを生成し、それを基に物体の変位を計算します。この装置は深さ方向や横方向の変位を捉え、3次元または2次元の変位ベクトルを計算することが可能です。さらに、異なる時相の超音波エコーデータを用いて計算を行うことで、より精密な計測が可能となっています。窓掛けされたスペクトルや重ね合わされたスペクトルなど、様々なスペクトルを利用して分析を行うことができます。これにより、物体の微細な変位を正確に計測することが可能になります。

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精密機器の品質管理

製造過程での微細な変位を検出し、品質管理に活用することが可能です。これにより、製品の品質を一貫して高いレベルに保つことができます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2014-243937
発明の名称: 変位計測装置、並びに、超音波診断装置
出願人／権利者: 学校法人上智学院
住所: 東京都千代田区紀尾井町７番１号
公開番号: 特開2015-042344
登録番号: 特許第5979682号

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