革新的なスキャンBISTのLFSRシード生成方法

国立大学法人　大分大学

大分県大分市大字旦野原７００

この技術でできること

XORネットワークと反転論理回路を組み合わせた効率的なスキャンBISTのLFSRシード生成方法

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、スキャンBISTのLFSRシード生成方法に関するもので、効率的なテストパターン生成が可能となります。具体的には、論理回路の動作を制御するための反転制御回路と、XORネットワークの出力を使用します。さらに、シード生成モデルは、フェーズシフタグループや組合せ回路部分の複製を備え、これらを活用してシードの生成を行います。また、マルチプレクサを用いて、XORネットワークの出力と組合せ回路部分の出力を時間的に切り替えることが可能です。これにより、テストパターン生成ツールを用いた対象逆障のテスト生成が可能となります。

AIによる特許活用案

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高効率なテストパターン生成

この特許技術を使用して、高効率なテストパターン生成を行うことが可能です。これにより、テストの時間を大幅に短縮し、生産性を向上させることが可能となります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2014-146027
発明の名称: スキャンＢＩＳＴのＬＦＳＲシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体
出願人／権利者: 国立大学法人　大分大学
住所: 大分県大分市大字旦野原７００
公開番号: 特開2015-038473
登録番号: 特許第6391336号

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