精度高く配光分布を測定する、画期的な配光測定装置と方法

地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

東京都江東区青海２－４－１０

この技術でできること

本特許は、面発光体の配光分布を測定する配光測定装置および方法に関するもので、より正確な配光分布の計測を可能にします。

相談したいこと

技術の特徴

本特許では、面発光体の光出射面における部分領域からの出射光を取り出し、その出射光を部分領域のサイズに対応した距離だけ光出射面から離れた位置で受光する配光測定装置および方法が提供されます。この方法では、各部分領域からの受光結果を得たら、その受光結果を演算部で積算し、全領域からの出射光の配光分布を求めます。さらに、演算部は、前記光出射面と遮蔽板との間隙距離に基づいて測定結果を補正します。このように、本特許では、より正確な配光分布の計測を可能にする新たな配光測定装置と方法を提供します。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 照明業界光学機器製造業空間設計業界

高精度な照明設計

本特許の配光測定装置と方法は、照明設計業界での活用が期待できます。より正確な配光分布の計測により、照明の配置や強度を最適化することで、効果的な照明計画を作成することが可能になります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2013-125803
発明の名称: 配光測定装置および配光測定方法
出願人／権利者: 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
住所: 東京都江東区青海２－４－１０
公開番号: 特開2015-001434
登録番号: 特許第6122706号

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