光散乱体の新次元解析、精緻な光学的測定方法

国立大学法人　筑波大学

茨城県つくば市春日１－２　高細精医療イノベーション棟１階

この技術でできること

本特許は、散乱光の特性を利用して光散乱体の特性を精密に測定する新たな光学的測定方法およびその装置について説明しています。

相談したいこと

技術の特徴

本発明は、光散乱体の光学的測定方法、光学的測定装置及び光学的記録媒体に関するもので、微粒子の大きさや形状、あるいは2つの光散乱体間の距離を精密に測定する技術を提供します。散乱光の強度分布を用いて光吸収や光路長を計算することが可能で、さらに散乱体の形状を計測することができます。さらに、光散乱体の形状に基づいて散乱強度を計算することで、光散乱体を計測することが可能となります。また、具体的な光学的測定装置の構成も提供しており、これにより、より効率的で精緻な光散乱体の測定が可能となります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 光学機器製造業ナノテクノロジー産業バイオテクノロジー産業

微粒子測定装置の開発

本特許の光学的測定方法を用いて、微粒子の精密な測定を可能にする装置を開発することができます。これにより、例えば医療や製薬業界における微粒子の分析や、材料科学における新材料の開発に貢献することが可能です。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2013-049705
発明の名称: 光散乱体の光学的測定方法、光学的測定装置及び光学的記録媒体
出願人／権利者: 国立大学法人　筑波大学
住所: 茨城県つくば市春日１－２　高細精医療イノベーション棟１階
公開番号: 特開2014-174124
登録番号: 特許第6183826号

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