非破壊で迅速な物質分析！新たなX線CT利用法

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）

この技術でできること

試料の元素の種類と濃度を非破壊で迅速に計測する分析方法

相談したいこと

技術の特徴

この特許は、試料の元素の種類と濃度をX線コンピュータ断層撮影（CT）を用いて分析する方法に関するものです。試料の実測画像に現れている線質をテーラー展開式で近似し、その係数を決定しています。さらに、得られたコンピュータ断層画像の線質硬化の定量解析によるテーラー展開式の係数が特定され、その試料の元素を含む元素群を特定します。これにより、物質が含む重元素の種類と濃度を非破壊で迅速に計測することが可能になります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 医療工業環境管理

非破壊での土壌試料分析への活用

この技術は、土壌試料に含まれる重元素の有無やその濃度を非破壊で分析するために使用できます。これにより、土壌汚染の検出や環境影響評価が迅速かつ効率的に行えます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2012-267612
発明の名称: コンピュータ断層撮影を用いた分析方法
出願人／権利者: 国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所: 茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）
公開番号: 特開2014-115116
登録番号: 特許第5946095号

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