高精度な物理量計測を可能にするパラメータ計測装置

学校法人明治大学

東京都千代田区神田駿河台１－１

この技術でできること

照射光の波長変調と物理量比較による高精度な計測値を提供する特許技術

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、特定の物理量（光の強度、熱の温度、振動の振幅など）を高精度に計測するためのパラメータ計測装置に関するものです。特に、目的成分の濃度に基づくパラメータの値を計測する際に、特定の波長（吸光度が極大となる波長を中心とした70ナノメートルの範囲内）の光を照射し、その結果生じる物理量を測定します。さらに、第1の波長の光と第2の波長の光を照射した場合に生じる物理量の変化も測定します。これにより、非目的成分から生じるエネルギーを抑制し、目的成分に基づくパラメータの正確な値を計算することが可能になります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 製造業医療機器業界研究開発

高精度な材料検査への応用

この技術は、製造業における材料検査に応用することができます。例えば、製品の品質管理の一環として、製品に含まれる特定の成分の濃度を正確に計測することが必要な場合、本技術を用いて高精度な計測を行うことが可能になります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2013-045981
発明の名称: パラメータ計測装置、パラメータ計測方法、及びプログラム
出願人／権利者: 学校法人明治大学
住所: 東京都千代田区神田駿河台１－１
公開番号: 特開2014-079559
登録番号: 特許第6080004号

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