高精度なバンドラインナップ装置で最適な素材を見つけ出す

国立研究開発法人物質・材料研究機構

茨城県つくば市千現１－２－１

この技術でできること

本装置は、試料の価電子帯上端エネルギーと伝導帯下端エネルギーを用いて、イオン化ポテンシャルとバンドギャップの値を計算し、バンドラインナップを演算します。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、試料の光源部がハロゲン光源と重水素光源の両方を有し、特定波長の光を試料に照射するバンドラインナップ装置です。コレクター電極に直流電圧を印加し、電流計で電流値を計測します。そして、特定波長の光を試料に照射し、試料の表面で反射した反射光または試料を透過した透過光の少なくとも一方を光量計で計測します。これにより、試料のイオン化ポテンシャルの値、バンドギャップの値、バンドラインナップの少なくとも一つを決定します。また、コレクター電極は金属製で、試料との間の距離が大気圧下の測定では1.0mm以下であることを特徴としています。

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光学素材の選定

本装置を用いることで、光学素材の特性を正確に測定することができます。これにより、最適な素材の選定が可能になります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2012-170994
発明の名称: バンドラインナップ装置及びその測定方法
出願人／権利者: 国立研究開発法人物質・材料研究機構
住所: 茨城県つくば市千現１－２－１
公開番号: 特開2013-167621
登録番号: 特許第6095043号

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