精密な測定とエラー管理を可能にする情報処理システム

国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構

千葉県千葉市稲毛区穴川４－９－１

この技術でできること

物質の測定情報と測定位置を取得し、表示する高度な情報処理システム。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、物質の測定情報とその測定位置を取得、表示する情報処理システムに関するものです。特に、エラー発生時の取り扱いに注目が集まっており、測定エラーや位置エラーが発生した場合の異なる表示方法を提供します。また、送信エラーが発生した場合は、エラー時に一時保存動作を行い、回線接続から切断までの間に再送動作を実行します。さらに、測定端末は通信結果を取得し、送信エラーが生じた場合はテスト通信を行い、正常であれば通信インターフェースを初期化します。これにより、通信エラーによる情報の欠落を防ぎ、精密な測定とデータ管理を実現します。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 IT業界、製造業、医療業界

精密機器の生産ラインでの活用

製造業での精密機器の生産ラインでは、生産過程での数値測定が重要です。本システムを導入することで、測定エラーや位置エラーが発生した場合の異なる表示方法を活用し、エラーの特定と対処を迅速に行うことができます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2011-227934
発明の名称: 測定情報処理システムおよび放射線測定情報処理システム
出願人／権利者: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
住所: 千葉県千葉市稲毛区穴川４－９－１
公開番号: 特開2013-090090
登録番号: 特許第5850449号

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