精密なX線回折パターン測定の新たな可能性

国立研究開発法人物質・材料研究機構

茨城県つくば市千現１－２－１

この技術でできること

本特許は、X線回折試料揺動装置、X線回折装置及びX線回折パターンの測定方法に関するものです。

相談したいこと

技術の特徴

特に、本発明は、高圧下における粗粒かつ微少な粉末試料をX線照射位置で揺動させ、均一な粉末X線回折リングを得る技術です。これにより、精密なX線回折強度データを得ることが可能となります。具体的には、軸調整機構を用いて、第1、第2、第3の各揺動部の回転軸の軸方向を互いに直交するように調整する工程、そして、各揺動部の揺動とX線の照射を同時に行う工程を有します。また、3軸パルスモーター制御装置により、第3の揺動部の位置及び方向を制御する工程も特徴となります。

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高精度なX線回折パターン測定

この技術は、高圧下における粗粒かつ微少な粉末試料のX線回折パターンの高精度な測定を可能にします。これにより、材料の結晶構造や物性をより正確に把握し、新素材の開発や既存素材の改良に寄与できる可能性があります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2011-225394
発明の名称: Ｘ線回折試料揺動装置、Ｘ線回折装置及びＸ線回折パターンの測定方法
出願人／権利者: 国立研究開発法人物質・材料研究機構
住所: 茨城県つくば市千現１－２－１
公開番号: 特開2013-088113
登録番号: 特許第5879567号

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