高精度電流測定を実現する革新的な装置

国立大学法人九州工業大学

福岡県北九州市戸畑区仙水町１番１号

この技術でできること

半導体回路の電流を影響を与えずに正確に測定することができる電流測定装置

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、半導体回路の電流を配線長が長くなり寄生インダクタンスが増加することなく、測定する電流測定装置に関するものです。具体的には、オフモット除去処理やオフセット除去処理後の測定波形データの時間積分、積分回路のフィードバックCR時定数による除算を行う積分処理、オフセット除去処理後の測定データに積分処理後の測定データを加える加算処理、加算処理後の測定波形データを電流波形の大きさと一致させるために定数倍する定数倍処理を経て行います。これにより、電流測定が容易になり、回路パラメータに影響を与えずに電流を測定することが可能となります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 電子部品製造業半導体製造業電子機器製造業

高精度電流測定の実現

本特許の技術を用いることで、半導体回路の電流測定の精度を向上させることが可能となります。これにより、回路の設計や検証の精度が向上し、より高品質な製品の開発が可能となります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2011-215005
発明の名称: 半導体回路の電流測定装置
出願人／権利者: 国立大学法人九州工業大学
住所: 福岡県北九州市戸畑区仙水町１番１号
公開番号: 特開2013-076569
登録番号: 特許第5846421号

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