精緻な変位計測の新標準 - 超音波エコーデータによる3次元変位計測装置と方法

学校法人上智学院

東京都千代田区紀尾井町７番１号

この技術でできること

この特許は、超音波エコーデータを使用して物体の変位を精密に測定する方法と装置を提供しています。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、超音波エコーデータを使用して物体の変位を精密に測定する方法と装置に関するものです。具体的には、超音波エコーデータのスペクトルから重心周波数を算出し、これを基にビーム方向を求める手法を提供しています。さらに、機械的なステアリングを行った場合のステアリング角度を感知し、座標系を設定する処理を行います。また、ビーム方向に基づいて超音波エコーデータを回転させ、新たな直交座標系で変位成分を算出する手法も提供します。このようにして、精密な変位計測が可能となります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 工学製造業ロボティクス

高精度ロボットアームの開発

本特許の変位計測方法は、高精度なロボットアームの開発に活用できます。ロボットアームの動きを精密に制御するためには、微細な変位を正確に計測する技術が必要です。本特許の技術を用いれば、より精緻な動作制御が可能となります。

続きの活用案は会員限定です

無料登録またはログイン後に、公開範囲に応じて確認できます。

参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2011-134573
発明の名称: イメージング方法及び変位計測方法及び装置、並びに、超音波画像診断装置
出願人／権利者: 学校法人上智学院
住所: 東京都千代田区紀尾井町７番１号
公開番号: 特開2013-000349
登録番号: 特許第5846411号

登録情報の修正申請