精密な磁性体観察が可能な革新的装置

国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構

千葉県千葉市稲毛区穴川４－９－１

この技術でできること

本特許は、磁性体の磁化の向きまたは磁化の大きさを観察する方法および装置に関するものです。

相談したいこと

技術の特徴

本特許の技術は、磁性体の磁化の向きまたは磁化の大きさを高精度に観察する新たな方法と装置に関するものです。特許に記載された装置は、試料に励起線を照射し、その試料から発生する特性X線を検出します。この特性X線は、左円偏光成分と右円偏光成分を含み、その強度の差が算出されます。この算出値は、データ処理部によって試料上の励起線照射位置に対応する形で画像として出力され、磁性体の磁化の向きまたは磁化の大きさを視覚化します。この技術により、開発者は磁性体材料の微細な構造を詳細に理解し、より効率的に材料の開発や改良を行うことが可能となります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 材料科学電子部品製造半導体産業

マテリアル開発の品質向上

この技術を活用することで、磁性体材料の開発工程における品質管理がより精密に行えます。具体的には、磁化の向きや大きさの観察により、材料の微細な特性を把握し、それに基づいた改良や問題解決が可能となります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2020-507917
発明の名称: 磁性体観察方法および磁性体観察装置
出願人／権利者: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
住所: 千葉県千葉市稲毛区穴川４－９－１
公開番号: WO2019/182097
登録番号: 特許第7129109号

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