高精度な2次元分光計測が可能な新技術

国立大学法人電気通信大学

東京都調布市調布ケ丘１丁目５−１

この技術でできること

本特許は、光周波数コムの繰り返し周波数を調整し、特定の光学情報を抽出する2次元分光計測方法と装置に関するものです。

相談したいこと

技術の特徴

本特許では、特定の光周波数コムの位相を時間軸上で調整し、さらに繰り返し周波数を調整する工程を含む2次元分光計測方法を提供しています。また、包絡線強度を取得する工程や、該強度に基づいて光学情報を算出する工程も含まれます。更に、光周波数コム出射部から出射された光周波数コムの一部をフィードバックする機構を備えた2次元分光計測装置も含まれています。これにより、光周波数コムの光路上の屈折率の分布や試料の形状などの特定の光学情報を高精度に抽出することが可能となります。

AIによる特許活用案

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高精度な光学機器の開発

本特許は、光学機器の精度を向上させる技術として活用することが可能です。光学情報の抽出精度を向上させることで、より正確な計測や分析が可能となります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2019-509004
発明の名称: ２次元分光計測方法及び２次元分光計測装置
出願人／権利者: 国立大学法人電気通信大学
住所: 東京都調布市調布ケ丘１丁目５−１
公開番号: WO2019/167478
登録番号: 特許第7194438号

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