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革新的な断層撮影装置: 物質密度の詳細な分布を把握

国立大学法人千葉大学

千葉県千葉市稲毛区弥生町1-33

この技術でできること

本発明は、物質密度分布を算出するための断層撮影装置に関するものです。

技術の特徴

本発明の断層撮影装置は、測定対象物にy線を照射し、通過したy線の送過度に関する情報を測定します。この測定情報を基に、測定対象物の物質密度分布を算出する部分を備えています。装置はまた、第1および第2の受光素子によって測定された光に関する物理量を使用します。さらに、装置には第1および第2の測定素子があり、それぞれ第1および第2の線のエネルギーに関する情報を測定します。これにより、複雑な構造を持つ物質や生体の詳細な物質密度分布を把握することが可能となり、より精密な診断や分析を可能にします。

関連キーワード

断層撮影装置物質密度分布y線測定測定素子診断技術

AIによる特許活用案

おすすめ業界 医療工業検査生物学

進化した医療診断への応用

本装置を使用することで、患者の体内の物質密度分布をより詳しく把握することが可能となります。これにより、異常な密度分布を早期に検出し、診断の精度を向上させることができます。

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

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権利概要

出願番号
特願2019-549128
発明の名称
断層撮影装置
出願人/権利者
国立大学法人千葉大学
住所
千葉県千葉市稲毛区弥生町1-33
公開番号
WO2019/077857
登録番号
特許第7208636号
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