光の新たな可能性を解き放つ、スペクトル光計測装置

国立研究開発法人科学技術振興機構

東京都千代田区四番町５－３　サイエンスプラザ

この技術でできること

光源から発せられたスペクトル光を分散し、試料の異なる集光点に集光する新型の計測装置

相談したいこと

技術の特徴

本装置は、異なる方向に波長を分散する分散素子を備えた分散部と、第1および第2のスペクトル光を発する光源とを備えています。複数の光源は、隣接するスペクトルの周波数間隔がそれぞれ異なり、これらを並べた際に最も近くに隣り合うスペクトル同士の周波数間隔は、第1隣接周波数間隔及び第2隣接周波数間隔の半分未満です。さらに、1つ以上の光源が発するスペクトル光のキャリア・エンベロープ・オフセット周波数又は隣接周波数間隔を制御する制御部も備えています。これにより、光の位置や形状を変更可能な空間光変調器を通じて、光の詳細なスペクトル情報を利用した精密な計測が可能となります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 光学機器製造業メディカル機器製造業ナノテクノロジー業界

高精度な光学計測装置の開発

光のスペクトルを詳細に制御し分析できる本装置を利用することで、高精度な光学計測が可能となります。これにより、例えばレーザー加工や光通信の精度を大幅に向上させることが可能となるでしょう。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2019-535718
発明の名称: 計測装置及び照射装置
出願人／権利者: 国立研究開発法人科学技術振興機構
住所: 東京都千代田区四番町５－３　サイエンスプラザ
公開番号: WO2019/031584
登録番号: 特許第7079509号

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