精密なナノ粒子観察の新時代を切り開く技術

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）

この技術でできること

高度な分散状態評価と観察を可能にするナノ粒子観察装置とその方法に関する特許

相談したいこと

技術の特徴

この特許は、ナノ粒子の分散状態を評価し、詳細な観察を可能にする技術に関するものです。特に、試料に分散しているナノ粒子の観察部分を選定し、電子顕微鏡や走査型プローブ顕微鏡を使用して観察する方法が提供されます。さらに、ナノ粒子に三原色を含む光を照射し、散乱光の波長と強度をデジタルデータとして記録し、それに基づいて、ナノ粒子の分散状態を評価します。また、光源の入射角を変更できる装置や、偏光フィルターも有する観察装置の構成も含まれます。これにより、ナノ粒子の分散状態の評価と観察がより精密に、効率的に行えるようになります。

AIによる特許活用案

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高精度なナノ粒子観察装置の開発

この特許を利用して、分散しているナノ粒子を詳細に観察できる装置を開発することができます。特に、ナノ粒子の分散状態を評価することが可能なので、より精密な観察が可能となり、ナノ粒子の研究や製造プロセスの改善に貢献できるでしょう。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2018-544975
発明の名称: ナノ粒子評価方法およびナノ粒子観察装置
出願人／権利者: 国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所: 茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）
公開番号: WO2018/070324
登録番号: 特許第6659062号

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