光学特性を高精度に測定する新世代装置

国立大学法人　香川大学

香川県高松市幸町１－１

この技術でできること

音響定在波を用いて試験試料の光学特性を測定する装置と方法。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、試験試料の光学特性を高精度に測定する装置と方法に関するものです。特定の状態での検出器の検出結果を用いて、試験試料の光学特性を算出します。さらに、定在波形成器によって試験試料中に音響定在波が形成されている状態で試料の表面に光を照射した結果や対照試料検出結果を利用して光学特性を求めます。波長変更器や音波振動変更部を備えることで、音響定在波の波長や音波振動の周波数及び振幅を調整できます。また、試験試料が既知物質と未知物質からなる複合試料であり、対照試料が既知物質である場合でも、対照試料が溶媒である場合でも、光学特性を測定可能です。

AIによる特許活用案

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光学特性分析の精度向上

本装置を使用することで、試験試料の光学特性をより詳細に分析可能となります。未知物質の光学特性を既知物質と比較することで、新たな物質の発見や性質の理解に貢献します。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2018-534436
発明の名称: 光学特性測定装置及び光学特性測定方法
出願人／権利者: 国立大学法人　香川大学
住所: 香川県高松市幸町１－１
公開番号: WO2018/034343
登録番号: 特許第6853584号

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