高解像度な観察が可能な位相差走査透過電子顕微鏡装置

大学共同利用機関法人自然科学研究機構

東京都港区虎ノ門４－３－１３　ヒューリック神谷町ビル２Ｆ

この技術でできること

電子線を分波するフレネル・ゾーン・プレートを特徴とする顕微鏡装置

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、フレネル・ゾーン・プレートを含む位相差走査透過電子顕微鏡装置について述べています。この装置は、電子線を少なくとも2つのビームに分波し、一方を主プローブ波として、他方を参照波として使用します。また、フレネル・ゾーン・プレートは配置されている場所により、参照波が収束あるいは発散する焦点位置を対物レンズの電子銃側の焦点と一致させます。さらに、フレネル・ゾーン・プレートと対物レンズの間に1つ以上のレンズを設け、該当レンズを移動または転送する位置に配置します。これにより、主プローブ波と参照波の間の位相差を測定することで、試料の微細な構造を高い解像度で観察することが可能となります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 マイクロスコピーナノテクノロジー物質科学

高解像度の生物学的観察

本装置を用いることで、生物学的試料の微細な構造を高い解像度で観察することが可能となります。これにより、細胞や微生物の内部構造、タンパク質の構造などを詳細に調べることができます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2018-508074
発明の名称: 位相差走査透過電子顕微鏡装置
出願人／権利者: 大学共同利用機関法人自然科学研究機構
住所: 東京都港区虎ノ門４－３－１３　ヒューリック神谷町ビル２Ｆ
公開番号: WO2017/170554
登録番号: 特許第6842718号

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