超高解像度で観察する光学顕微鏡システム

国立大学法人静岡大学

静岡県浜松市中央区城北３－５－１

この技術でできること

高い空間分解能を実現する観察システムを提供します。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、撮像部により散乱された光の像分布を撮像し、反射光を導く特異な光路を備えた観察システムに関するものです。測定部は第3、第4の光路の終端に設けられ、演算部は撮像部にも接続されます。演算部は、シフト量に応じた位相と、その位相を有する干渉結に対応した像分布に基づいて観察対象物の形状分布を算出します。互いに異なる少なくとも3つの位相と、それぞれの位相を有する干渉半に対応した像分布に基づいて観察対象物の形状分布を算出することも可能です。さらに、観察対象物を保持する回転台を備えることで、観察対象物から撮像部へ向かう軸線回りに回転可能です。

AIによる特許活用案

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高解像度画像の取得

本特許の技術を用いることで、観察対象物の高解像度画像を得ることができます。これにより、微細な構造や細部まで詳細に観察することが可能となり、研究や分析の精度を向上させることができます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2017-535578
発明の名称: 観察システム
出願人／権利者: 国立大学法人静岡大学
住所: 静岡県浜松市中央区城北３－５－１
公開番号: WO2017/030194
登録番号: 特許第6714917号

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