精密な粒子径計測へ、革新的な解析法の登場

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）

この技術でできること

レーザ光とカメラを活用した粒子径計測方法を提供し、粒子の材料判別まで可能にする特許技術です。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、分散媒中の粒子の径を計測するための革新的な方法を開示しています。レーザ光をカラム内の分散媒に照射し、カメラを含む撮像部で撮像を行います。ここから複数の撮像された画像から粒子の変位を求め、それに基づき粒子径を算出します。さらに、画像から粒子の散乱光強度と個数濃度を得ることが可能で、これにより相対屈折率を補正し、既知の屈折率を参照することで粒子の材料の判別まで行うことができます。これにより、例えばナノサイズの粒子でも粒子径を計測可能とするだけでなく、粒子の材料の判別まで可能にします。また、光学的な計測方法であるため、サンプリングによるバッチ式の計測に比べて高速でインラインでの粒子径測定が可能です。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 ナノテクノロジー化学材料科学

ナノサイズ粒子の品質管理

ナノサイズの粒子の製造過程や品質管理のために、本特許の粒子径計測方法を活用することで、精密かつ高速な径の計測と材料判別が可能となります。これにより品質保証を向上させることができます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2017-510133
発明の名称: 粒子径計測方法及びその装置
出願人／権利者: 国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所: 茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）
公開番号: WO2016/159131
登録番号: 特許第6687951号

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