高精度な光の分析を実現する多焦点分光計測装置

国立研究開発法人科学技術振興機構

東京都千代田区四番町５－３　サイエンスプラザ

この技術でできること

本装置は、試料の複数の観測領域から発せられる光を高精度に分析することができる。

相談したいこと

技術の特徴

本発明の多焦点分光計測装置は、複数の対物集光部と分光器側集光部を備えます。これにより、試料配置部に配置された試料から発せられる信号光を分光器に導入し、光の成分を分析することが可能となります。また、試料と対物集光部の相対的な位置を移動させることも可能で、より詳細な光の分析が可能です。複数の対物集光部とそれに対応する分光器側集光部間の光が平行光線になるように配置されているため、高精度な分光計測が可能となります。これにより、試料の性質をより正確に把握し、分析結果の精度を向上させることが可能となります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 化学物理生物学

高精度な物質分析

本装置を用いることで、試料から発せられる光の成分を高精度に分析することが可能となります。これにより、試料の物質特性をより正確に把握することができます。

続きの活用案は会員限定です

無料登録またはログイン後に、公開範囲に応じて確認できます。

参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2016-572194
発明の名称: 多焦点分光計測装置、及び多焦点分光計測装置用光学系
出願人／権利者: 国立研究開発法人科学技術振興機構
住所: 東京都千代田区四番町５－３　サイエンスプラザ
公開番号: WO2016/121946
登録番号: 特許第6622723号

登録情報の修正申請