新次元の光学測定装置、光の極性を捉える

国立大学法人電気通信大学

東京都調布市調布ケ丘１丁目５−１

この技術でできること

光学素子を活用し、光の強度変化の極性や強度の変調周波数を測定する高精度な光学測定装置

相談したいこと

技術の特徴

本特許では、光学素子が分岐ファイバであり、中心側の第1ファイバと外周側の第2ファイバを有する光学測定装置が提案されています。また、プロープ信号光の断面の強度変化の極性が反転する径方向の位置や、バランス検出器の出力をロックイン検出するロックイン増幅器とともに、光学測定の精度を向上させる技術が含まれています。さらに、試料を透過したプローブ信号光を空間的に分離し、その差分を検出する方法も特徴としています。これにより、高解像度の光学測定が可能となり、様々な科学技術分野に対する貢献が期待されます。

AIによる特許活用案

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高精度な物質解析に活用

本光学測定装置は、光の強度変化の極性や強度の変調周波数を測定することができるため、物質の性質を詳細に解析するのに活用することが可能です。特に、微細な物質の構造解析や、物質間の相互作用の解析に有効と考えられます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2016-568762
発明の名称: 光学測定装置及び光学測定方法
出願人／権利者: 国立大学法人電気通信大学
住所: 東京都調布市調布ケ丘１丁目５−１
公開番号: WO2016/111363
登録番号: 特許第6590344号

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