革新的な磁気力顕微鏡用探針の評価装置
国立大学法人秋田大学
秋田県秋田市手形学園町1-1
この技術でできること
磁気力顕微鏡用探針の特性を精確に評価するための装置と方法
相談したいこと
技術の特徴
本特許は、磁気力顕微鏡用探針の特性を評価する新たな装置と方法に関するものです。探針チップは強磁性体、常磁性体、超常磁性を示す材料、または反磁性体を有し、特定の状況下での探針の挙動を評価します。交流磁場の強度を増加させることにより、サイドバンドの強度が変化し、その変化を測定することで探針の特性を評価します。評価結果は探針の挙動や材質に依存し、それぞれの磁性体に対して特異な評価結果を出力します。これにより、より精確な探針の評価が可能となります。
関連キーワード
AIによる特許活用案
マイクロスコピーサービスの品質向上
この特許を活用することで、マイクロスコピーサービス業者は、探針の特性をより精確に評価できます。これにより、より正確な観察結果を提供し、サービスの品質を向上させることが可能になります。
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参考情報
活用条件
- サブスクリプション・未選択
- 権利譲渡・未選択
- ライセンス契約・未選択
- 商品化・サービス化
- ASK
- 実証実験
- ASK
- サンプル・プロトタイプ
- ASK
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権利概要
- 出願番号
- 特願2016-523490
- 発明の名称
- 磁気力顕微鏡用探針の評価装置および評価方法、ならびに磁気力顕微鏡および磁気力顕微鏡の制御用磁場調整方法
- 出願人/権利者
- 国立大学法人秋田大学
- 住所
- 秋田県秋田市手形学園町1-1
- 公開番号
- WO2015/182564
- 登録番号
- 特許第6528334号