先進的な光検出装置制御プログラム
国立大学法人東京農工大学
東京都小金井市中町２－２４－１６
この技術でできること
位相変調されたパルス光に基づく精密な光検出を実現するプログラム
相談したいこと
技術の特徴
本特許は、位相変調されたパルス光を用いて散乱光の周波数スペクトルを抽出する光検出装置制御プログラムに関しています。このプログラムは、光源部から発生した第1パルス光をフィルタ部で第2パルス光と第3パルス光に分け、第2パルス光を位相変調部で位相変調します。その後、位相変調された第2パルス光と第3パルス光を合波部で合波させて第4パルス光を作り出し、この第4パルス光を対象物に照射します。そして、対象物から発生した散乱光を分光して検出部で検出します。この検出された散乱光の周波数スペクトルから、位相変調部で位相変調された第2パルス光に基づいて散乱した散乱光の周波数スペクトルを抽出します。
関連キーワード
AIによる特許活用案
光学検査装置の精度向上
本プログラムを用いることで、光学検査装置の精度を向上させることが可能です。位相変調されたパルス光による散乱光の周波数スペクトルの抽出は、より詳細で精密な光学検査を可能にします。
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参考情報
活用条件
- サブスクリプション・未選択
- 権利譲渡・未選択
- ライセンス契約・未選択
- 商品化・サービス化
- ASK
- 実証実験
- ASK
- サンプル・プロトタイプ
- ASK
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権利概要
- 出願番号
- 特願2016-504052
- 発明の名称
- 光検出装置、光検出方法およびプログラム
- 出願人／権利者
- 国立大学法人東京農工大学
- 住所
- 東京都小金井市中町２－２４－１６
- 公開番号
- WO2015/125665
- 登録番号
- 特許第6380941号