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あなたの研究を一歩先へ!高精度なX線三次元測定装置

地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

東京都江東区青海2-4-10

あなたの研究を一歩先へ!高精度なX線三次元測定装置
掲載画像・地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

この技術でできること

本特許は、X線エネルギー別画像再構成装置及び方法、及びX線三次元測定装置及び方法に関するものです。

技術の特徴

本特許では、撮像対象試料にX線を照射し、その試料から発生する特性X線をエネルギー分散型検出器により検出します。検出された特性X線のピークを数値化し、その数値データに基づいて画像を再構成します。さらに、再構成された画像は、正解サイノグラムに収束させるようにX線CT画像をエネルギー別に補正します。この技術により、試料の元素ごとの画像を再構成し、各画像を一つに組み合わせ、撮像対象試料の元素由来情報を含む3次元画像を取得することが可能です。

関連キーワード

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号
特願2015-519944
発明の名称
X線エネルギー別画像再構成装置及び方法並びにX線三次元測定装置及び方法
出願人/権利者
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
住所
東京都江東区青海2-4-10
公開番号
WO2014/192889
登録番号
特許第6280544号
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