光位相情報を精密に測定する新たな方法・装置
国立大学法人北海道大学
北海道札幌市北区北２１条西１１丁目 北キャンパス総合研究棟３号館
この技術でできること
ホログラムを生成し、光強度検出部により物体光の強度分布を直接使用して、物体光に含まれる位相情報を算出する方法と装置。
相談したいこと
技術の特徴
本特許は、物体光の位相情報を精確に測定するための新たな方法と装置を提供します。特に、物体光と干渉しうる参照光の位相を変化させ、互いに位相が異なる第1参照光および第2参照光を生成します。さらに、物体光および各参照光からホログラムを生成し、それぞれの強度分布を検出します。この強度分布は、処理部において直接使用され、物体光に含まれる位相情報を算出します。さらに、この装置は、空間フィルタリングにより低空間周波数成分を抽出し、参照光を生成する機能も備えています。これにより、光位相測定の精度を向上させることが可能です。
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参考情報
活用条件
- サブスクリプション・未選択
- 権利譲渡・未選択
- ライセンス契約・未選択
- 商品化・サービス化
- ASK
- 実証実験
- ASK
- サンプル・プロトタイプ
- ASK
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権利概要
- 出願番号
- 特願2014-538203
- 発明の名称
- 光位相測定方法、光位相測定装置および光通信装置
- 出願人／権利者
- 国立大学法人北海道大学
- 住所
- 北海道札幌市北区北２１条西１１丁目 北キャンパス総合研究棟３号館
- 公開番号
- WO2014/050141
- 登録番号
- 特許第6202499号