革新的な固体の空準位測定装置と方法
国立大学法人京都大学
京都府京都市左京区吉田本町
この技術でできること
半導体や金属などの固体の電子状態を精密に測定するための装置と方法の特許
相談したいこと
技術の特徴
本特許は、半導体や金属などの固体の電子状態を精密に測定するための装置と方法について述べています。この装置には、電子線を生成して固体試料に照射し、試料から放出される電磁波の強度を測定する手段や、その強度から固体試料の空準位エネルギーを決定する手段が含まれています。特に、180-700nmの範囲の光の強度を測定し、その結果からスペクトルを生成することが特徴です。これにより、固体の電子状態を精密に測定し、物質の性質を把握することが可能となります。
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AIによる特許活用案
半導体材料の性能評価
この特許の技術は、半導体材料の性能評価に活用することができます。半導体デバイスの性能は、その元となる材料の電子状態に大きく影響を受けます。この装置と方法を使用することで、材料の電子状態を精密に測定し、デバイスの性能を予測することが可能となります。
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参考情報
活用条件
- サブスクリプション・未選択
- 権利譲渡・未選択
- ライセンス契約・未選択
- 商品化・サービス化
- ASK
- 実証実験
- ASK
- サンプル・プロトタイプ
- ASK
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権利概要
- 出願番号
- 特願2014-502245
- 発明の名称
- 固体の空準位測定方法及び装置
- 出願人／権利者
- 国立大学法人京都大学
- 住所
- 京都府京都市左京区吉田本町
- 公開番号
- WO2013/129390
- 登録番号
- 特許第6108361号