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音波を用いた新たな特性測定装置

国立研究開発法人科学技術振興機構

東京都千代田区四番町5-3 サイエンスプラザ

音波を用いた新たな特性測定装置
掲載画像・国立研究開発法人科学技術振興機構

この技術でできること

音波を利用した物体の特性を測定する装置とその方法が特許化されています。

技術の特徴

この特許は、振幅変調または周波数変調された音波を受けることによって電磁場を発生する対象物の特性を測定する装置とその方法に関するものです。具体的には、振幅変調された音波を被測定対象に照射し、その結果発生する電磁場を受信することで、被測定対象の特性を抽出します。この受信部には、磁場を検出するSQUID(超伝導量子干渉素子)が備えられています。また、音波の変調周波数に対する(1/4)波長の奇数の整数倍となる距離を設定するなど、詳細な手法も開示されています。

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

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権利概要

出願番号
特願2013-524664
発明の名称
被測定対象の特性測定装置及び被測定対象の特性測定方法
出願人/権利者
国立研究開発法人科学技術振興機構
住所
東京都千代田区四番町5-3 サイエンスプラザ
公開番号
WO2013/011869
登録番号
特許第5892623号
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