高感度で小型化・軽量化を実現した全反射蛍光X線分析装置
国立大学法人京都大学
京都府京都市左京区吉田本町
この技術でできること
微量な元素分析を効率よく行う全反射蛍光X線分析装置とその方法
相談したいこと
技術の特徴
本発明は、試料にX線を照射して発生する蛍光X線を検出し、その試料中の微量元素を測定する全反射蛍光X線分析装置およびその方法に関するものです。装置は、試料台上の残浴にX線を照射して、X線検出部の計数率が最大積分計数率よりも小さくなるように設計されています。また、X線管の管電圧は20kV以上30kV以下で、試料台は短形板状となっています。本発明の目的は、小型化と軽量化を追求し、高感度な全反射蛍光X線分析装置とその方法を提供することです。
関連キーワード
AIによる特許活用案
高感度な微量元素分析の実現
本発明は、微量な元素を高感度で分析することができます。これにより、研究所や学校、企業等での微量元素分析がより効率的かつ正確に行えます。
続きの活用案は会員限定です
無料登録またはログイン後に、公開範囲に応じて確認できます。
参考情報
活用条件
- サブスクリプション・未選択
- 権利譲渡・未選択
- ライセンス契約・未選択
- 商品化・サービス化
- ASK
- 実証実験
- ASK
- サンプル・プロトタイプ
- ASK
掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。
権利概要
- 出願番号
- 特願2010-527698
- 発明の名称
- 全反射蛍光Ｘ線分析装置及び全反射蛍光Ｘ線分析方法
- 出願人／権利者
- 国立大学法人京都大学
- 住所
- 京都府京都市左京区吉田本町
- 公開番号
- WO2010/026750
- 登録番号
- 特許第5846469号