非破壊で半透膜中のセルロースナノファイバー濃度を測定
国立大学法人信州大学
長野県松本市旭３丁目１−１
この技術でできること
赤外吸収スペクトルから計算される、セルロースナノファイバー濃度の測定方法と装置
相談したいこと
技術の特徴
本特許は、半透膜中のセルロースナノファイバーの濃度を非破壊的かつ簡易に測定するための方法と装置を提供します。特に、ポリスルホンからなる多孔性支持体上に、セルロースナノファイバーの濃度が0質量%から30質量%以下である半透膜を設けた半透複合膜の製造方法に関するものです。この測定方法では、赤外吸収スペクトルを分析し、吸収ピークの強度比を求め、これに基づいてセルロースナノファイバーの濃度が算出されます。これにより、半透膜中のセルロースナノファイバー濃度を正確に測定することが可能となります。
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本特許を活用し、製造過程での半透膜中のセルロースナノファイバーの濃度を簡易にかつ正確に測定することで、製品品質の向上と生産効率の向上を図ることが可能です。
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参考情報
活用条件
- サブスクリプション・未選択
- 権利譲渡・未選択
- ライセンス契約・未選択
- 商品化・サービス化
- ASK
- 実証実験
- ASK
- サンプル・プロトタイプ
- ASK
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権利概要
- 出願番号
- 特願2021-080317
- 発明の名称
- 半透膜中のセルロースナノファイバーの濃度の測定方法及び測定装置並びに半透複合膜の製造方法
- 出願人／権利者
- 国立大学法人信州大学
- 住所
- 長野県松本市旭３丁目１−１
- 登録番号
- 特許第6999989号