画像による塗膜厚計測方法、塗膜厚計測プログラム、及び塗膜厚計測システム

国立研究開発法人　海上・港湾・航空技術研究所

東京都三鷹市新川６－３８－１

この技術でできること

光学画像解析を活用し、非接触で塗膜の厚さを面的に測定。生産現場の品質管理を効率化します。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、塗装された対象物の膜厚を非接触かつ高精度に測定するための画像計測技術に関するものです。従来、塗膜の厚さ測定は接触式測定器や断面観察に依存しており、破壊を伴う場合や測定範囲が限定されるといった課題がありました。本発明では、まず異なる膜厚を持つ試験片に光を照射し、塗膜の散乱係数（S）と吸収係数（K）を推定します。次に、これらの係数をKubelka-Munk理論に基づいた反射光強度と膜厚の関係式に適用し、膜厚推定式を導出します。その後、実際の対象物に光を照射し、反射光を撮像装置で取得。画像から反射光強度を算出し、導出した式を用いて膜厚を推定します。この方法により、塗膜を破壊することなく面的に均一性を評価でき、従来困難だった大面積の非接触測定が可能となります。自動車、建築、電子機器など幅広い分野における品質管理・生産性向上に貢献する技術です。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2021-138655
発明の名称: 画像による塗膜厚計測方法、塗膜厚計測プログラム、及び塗膜厚計測システム
出願人／権利者: 国立研究開発法人　海上・港湾・航空技術研究所
住所: 東京都三鷹市新川６－３８－１
公開番号: 特開2023-032494
登録番号: 特許第7706744号

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